TEMATYKA SPOTKANIA:

• Podstawy teoretyczne oraz różnice pomiędzy technikami FTIR, UV-VIS i RF.
• Interpretacja widm FTIR, UV-VIS i RF na podstawie przykładów.
• Czynniki wpływajace na wyniki analiz - wpływ tła, maskowanie, wybór linii analitycznej.
• Podstawy teoretyczne i porównanie technik AA (metody płomieniowe i kuwety grafitowej) oraz ICP (OES i MS).
• Technika rentgenowska EDX w analizie pierwiastków i tlenków oraz dyrektywy RoHS.
• Badanie specjacji.
• Konstrukcyjne rozwiązania zestawów ICP-MS i ICP-OES oraz ich wpływ na wyniki analiz.
• Nowatorskie zastosowania spektrofotometrii i spektroskopii: techniki łączone i sprzężone.
• Zastosowanie funkcjonalnej spektroskopii bliskiej podczerwieni fNIRS do badania aktywności mózgu: rozróżnianie stresu, depresji i choroby Alzheimera.
• Analiza chemiczna powierzchni: spektroskopia rentgenowska fotoelektronów ESCA-XPS, ablacja laserowa LA.
• Zajęcia praktyczne w grupach z wykorzystaniem aparatury FTIR, UV-VIS, EDX oraz z oprogramowaniem FTIR, UV-VIS, EDX i ICP.

Pytania związane z Akademią i rejestracją prosimy kierować do:
Aleksandra Bugalska aleksandrab@shim-pol.pl, tel +48 604 658 952, +48 22 2060932

Koszt udziału w Akademii wynosi 2200 zł netto + 23% VAT i obejmuje:

zakwaterowanie w hotelu 4-gwiazdkowym, w pokojach jednoosobowych,
pełne wyżywienie, materiały konferencyjne

Liczba miejsc ograniczona!